對其滿足哪些標準和標準具體內容就未必知道了，今天我們就來為您一一解析，希望可以幫助各位朋友：GB/T 2423.1-2001 電工電子產品環(huán)境試驗
第1部分：試驗方法試驗A：低溫：簡介：本標準所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品。對于非散熱試驗樣品，試驗Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標準。本標準于用來考核或確定電工、電子產品（包括件、設備及其他產品）在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應性。這一低溫試驗不能用來評價試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應當采用試驗N:溫度變化試驗方法。低溫試驗方法分為以下三類:非散熱試驗樣品低溫試驗:——試驗Aa:溫度突變——試驗Ab:溫度漸變散熱試驗樣品低溫試驗:——試驗Ad:溫度漸變本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定，則試驗持續(xù)時間從試驗箱（室）達到規(guī)定試驗溫度時開始計算。相關規(guī)范應規(guī)定:a）試驗箱（室）內溫度變化速率;b）試驗樣品放入試驗箱（室）的時間;c）試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間;d）試驗樣品通電或加負載的時間。在這些條件下，相關規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導則選定以上4個參數(shù)（以上條件下的修訂正在考慮之中）。
GB/T 2423.2-2001 電工電子產品環(huán)境試驗
第2部分：試驗方法 試驗B：高溫：簡介：本標準敘述的高溫試驗適用于散熱和非散熱兩類試驗樣品。對于非散熱試驗樣品，試驗Ba和Bb基本上不違背早期發(fā)行的標準。本高溫試驗的目的于確定件、設備或其他產品在高溫環(huán)境條件下使用或貯存的適應性。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下。應當采用試驗N:溫度變化試驗方法。高溫試驗方法分為:非散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Ba:溫度突變;試驗Bb，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Bc:溫度突變;試驗Bd:溫度漸變。本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定。則試驗持續(xù)時間從試驗箱（室）達到規(guī)定試驗溫度時開始計算。相關規(guī)范應規(guī)定:a）試驗箱（室）內溫度變化速率;b）試驗樣品放人試驗箱（室）的時間;c）試驗樣品在試驗條件下暴露開始的時間;d）試驗樣品通電或加負載的時間。對于這些情況，相關規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導則選定以上4個參數(shù)（包含以上這些情況的修正件在考慮之中）。
GB/T 2423.3-1993 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫試驗設備》的要求 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1） 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2） GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗方法 GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法 GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗 GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》 GB10592-93《高、低溫試驗箱技術條件》
Ca:恒定濕熱試驗方法（已作廢，被GB2423.3-2006替代） GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱方法：簡介：本標準等同采用IEC60068-2-78：2001，規(guī)定了電工電子產品恒定濕熱試驗的嚴酷等級，適用于散熱和非散熱樣品。本標準適用于確定電工電子產品、元件或設備在高濕度的條件下使用、儲存和運輸時的適應性。
GB/T 2423.4-1993 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Db:交變濕熱試驗方法：簡介：本標準規(guī)定了交變濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱（室）的基本要求等。本標準適用于確定電工電子產品或材料在溫度循環(huán)變化、產品表面產生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應性。 | 
